AOI二次定位算法
青铜1级项目

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¥10000.00

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背景:AOI设备运行检测的拍照过程,每次拍照采集图像时,实际运动位置坐标与编程时坐标存在一定的机械误差而产生到位不准问题,导致算法框抠图出现偏差,出现元器件图片不完整的情况,结果产生较多误报。

需求:在运行检测时,对于拍照取到的FOV图像中特定元器件,进行基于元件本体的二次定位,得到新的坐标后进行图片裁切,从而针对该元器件进行图像处理和检测比对。

期望:解决运行坐标和编程坐标存在偏差出现的抠图偏问题,实现精准检测。



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